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Incorporating Tolerances into Qualitative Reliability Models

Kleinhans, Lukas ORCID iD icon 1; Li, Jiahang 1; Grauberger, Patric ORCID iD icon 1; Matthiesen, Sven 1
1 Institut für Produktentwicklung (IPEK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2024
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000179307
Erschienen in DS 133: Proceedings of the 35th Symposium Design for X (DFX2024), Bamberg, 12th-13th September 2024
Veranstaltung 35th Design for X Symposium (DfX 2024), Bamberg, Deutschland, 12.09.2024 – 13.09.2024
Verlag The Design Society
Seiten 182–191
Nachgewiesen in Dimensions
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